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FESEM de resolución ultraalta | SEM5000X
FESEM de resolución ultraalta | SEM5000X
La microscopía electrónica de barrido por emisión de campo de resolución ultraalta (FESEM) desafía los límites
FESEM / SEM5000X
El CIQTEK SEM5000X es un FESEM de resolución ultraalta con un diseño de columna óptica electrónica optimizado, que reduce las aberraciones generales en un 30 % y logra una resolución ultraalta de 0,6 nm a 15 kV y 1,0 nm a 1 kV. . Su alta resolución y estabilidad lo hacen ventajoso en la investigación avanzada de materiales nanoestructurales, así como en el desarrollo y fabricación de chips CI semiconductores de nodos de alta tecnología.
FESEM / SEM5000X
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Mejora de lente objetivo
La aberración cromática de la lente se redujo en un 12 %, la aberración esférica de la lente se redujo en un 20 % y la aberración general se redujo en un 30 %.
Tecnología de desaceleración de doble haz.
Desaceleración del haz dentro de la lente, aplicable a muestras con grandes volúmenes, secciones transversales y superficies irregulares. La tecnología de desaceleración dual (desaceleración del haz dentro de la lente + desaceleración del haz en tándem de la etapa de la muestra) desafía los límites de los escenarios de captura de señales de la superficie de la muestra.
Características de FESEM / SEM5000X
Poder de resolución innovador
Etapa de muestra eucéntrica mecánica
*Modo de desaceleración de doble haz (Duo-Dec)
*Bloqueo de carga para intercambio de muestras (compatible con 8 pulgadas)
Alta estabilidad
Excelente capacidad de expansión