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FESEM | SEM4000Pro

FESEM | SEM4000Pro

Microscopio electrónico de barrido por emisión de campo analítico (FESEM) con haz grande I

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FESEM / SEM4000Pro

CIQTEK SEM4000Pro es un modelo analítico de FE-SEM, equipado con un cañón de electrones de emisión de campo Schottky de alto brillo y larga duración. El diseño de lente electromagnética de 3 etapas ofrece ventajas significativas en aplicaciones analíticas como EDS/EDX, EBSD, WDS y más. Viene de serie con un modo de bajo vacío y un detector de electrones secundario de bajo vacío y alto rendimiento, así como un detector de electrones retrodispersados ​​retráctil, que beneficia la observación de muestras poco conductoras o no conductoras

FESEM / SEM4000Pro

  • Modo de vacío bajo


En el modo de bajo vacío, se puede alcanzar un rango de 10-180 Pa sin una apertura limitadora de presión. La cámara de vacío de la lente objetivo especialmente diseñada minimiza el recorrido libre medio de los electrones en condiciones de bajo vacío y logra una resolución de 1,5 nm a 30 kV en modo de bajo vacío.

La emisión secundaria de electrones desde la superficie de la muestra ioniza las moléculas de aire y genera simultáneamente electrones, iones y fotones. Los electrones generados ionizan aún más otras moléculas de aire; el detector de electrones secundarios (LVD) de bajo vacío captura una gran cantidad de señales de fotones producidas en dicho proceso

 

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Características de FESEM / SEM4000Pro

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Modo de vacío bajo

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Alta resolución (0,9 nm a 30 kV)

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Excelente capacidad de expansión

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Lente electromagnética de tres etapas

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Lente electromagnética de tres etapa

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Etapa de muestra eucéntrica mecánica

FICHA TÉCNICA

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