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Filamento de tungsteno SEM | SEM3300
Filamento de tungsteno SEM | SEM3300
Microscopio electrónico de barrido con filamento de tungsteno de próxima generación
SEM / SEM3300
El CIQTEK SEM3300 microscopio electrónico de barrido (SEM) incorpora tecnologías como óptica electrónica "Super-Tunnel", detectores de electrones con lente interna y lente objetivo compuesta electrostática y electromagnética. Al aplicar estas tecnologías en el microscopio de filamento de tungsteno, se supera el límite de resolución antiguo de dicho SEM, lo que permite que el SEM de filamento de tungsteno realice tareas de análisis de bajo voltaje que antes solo se podían lograr con SEM de emisión de campo.
SEM / SEM3300
Anticolisión (software)
Ingrese manualmente la altura de la muestra para definir con precisión la distancia entre la muestra y la lente del objetivo para evitar colisiones.
Anticolisión (hardware)
Apague la alimentación del motor de la etapa en el momento de la colisión para minimizar el daño.
CCD de infrarrojos
Monitoreo del movimiento interior de la cámara en tiempo real mediante reconocimiento de imágenes y tecnología de captura de movimiento.
Características de SEM / SEM3300
Supere el límite de resolución de los SEM de filamento de tungsteno
Detector de electrones en lente
Lente objetivo combinada electromagnética y electrostática
Más seguro de usar
Excelente capacidad de expansión