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SEM de alta velocidad | HEM6000
SEM de alta velocidad | HEM6000
Microscopio electrónico de barrido de alta velocidad para imágenes a escala cruzada de muestras de gran volumen
SEM / HEM6000
CIQTEK HEM6000 incorpora tecnologías como el cañón de electrones de corriente de haz grande y alto brillo, el sistema de desviación del haz de electrones de alta velocidad, la desaceleración de la etapa de muestra de alto voltaje, el eje óptico dinámico y el objetivo combinado de inmersión electromagnética y electrostática. para lograr la adquisición de imágenes de alta velocidad y al mismo tiempo garantizar una resolución a nanoescala.
El proceso de operación automatizado está diseñado para aplicaciones como un flujo de trabajo de imágenes de alta resolución de áreas grandes más eficiente e inteligente. La velocidad de obtención de imágenes puede alcanzar más de 5 veces más que la de un microscopio electrónico de barrido por emisión de campo convencional (FESEM)
SEM / HEM6000
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Automatización de alta velocidad
Proceso de carga y descarga de muestras completamente automático y operación de adquisición de imágenes, lo que hace que la velocidad general de obtención de imágenes sea 5 veces más rápida que la del FESEM convencional.
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Gran campo de visión
La tecnología que desplaza dinámicamente el eje óptico según el rango de desviación de escaneo logra una distorsión mínima de los bordes.
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Baja distorsión de imagen
La tecnología de desaceleración en tándem de la etapa de muestra logra una baja energía de aterrizaje y, al mismo tiempo, obtiene imágenes de alta resolución.
Características de SEM / HEM6000
Alta velocidad
Controlador de escaneo
Tiempo de permanencia 10 ns/píxel, velocidad máxima de adquisición de imágenes 2*100 M píxeles/s.
Filtrado de electrones de señal
Sistema
Conmutación sin señal SE/BSE, mezcla con relación ajustable.
Completamente electrostático
Sistema de desviación de haz de alta velocidad
Imágenes de campo grande de alta resolución que pueden alcanzar un campo de visión máximo de hasta 64um*64um a 4 nm por píxel.
Etapa de muestra
Tecnología de desaceleración
Reducir el voltaje de aterrizaje de electrones incidentes, aumentando la eficiencia de captura de electrones de señal.
Sistema de desviación de haz de lente objetivo de inmersión combinado electromagnético y electrostático
El campo magnético de la lente objetiva sumerge la muestra y contribuye a obtener imágenes de alta resolución con baja aberración.