
FIB-SEM | DB550
FIB-SEM | DB550
Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo (FE-SEM) con columnas de haz de iones enfocados (FIB)

FIB-SEM / DB550
El microscopio electrónico de barrido con haz de iones enfocado (FIB-SEM) CIQTEK DB550 tiene una columna de haz de iones enfocado para nanoanálisis y preparación de muestras. Utiliza tecnología de óptica electrónica de “súper túnel”, diseño de objetivo no magnético y de baja aberración, y tiene la característica de “bajo voltaje, alta resolución” para garantizar sus capacidades analíticas a nanoescala.
Las columnas de iones facilitan una fuente de iones de metal líquido Ga+ con haces de iones altamente estables y de alta calidad para garantizar las capacidades de nanofabricación. El DB550 es una estación de trabajo de nanoanálisis y fabricación todo en uno con un nanomanipulador integrado, un sistema de inyección de gas y un software GUI fácil de usar.
Reflejos de FIB-SEM / DB550
1. "Super Tunnel" tecnología de columna de óptica electrónica/desaceleración del haz en la columna
Disminuye el efecto de carga espacial, asegurando un rendimiento de resolución de bajo voltaje.
2. Sin cruces en la trayectoria del haz de electrones
Reduzca eficazmente las aberraciones de la lente y mejore la resolución.
3. Lente objetivo compuesta electromagnética y electrostática
Reduce las aberraciones, mejora significativamente la resolución a bajos voltajes y permite la observación de muestras magnéticas.
4. Lente objetivo de temperatura constante refrigerada por agua
Asegure la estabilidad, confiabilidad y repetibilidad del rendimiento de la lente objetivo.
5. Sistema de conmutación de apertura variable de múltiples orificios mediante desviación del haz electromagnético
El cambio automático entre aperturas sin movimiento mecánico permite un cambio rápido entre varios modos de imagen.

Características de FIB-SEM / DB550

Tecnología de óptica electrónica "SuperTunnel"

Haz de iones de galio

Excelente capacidad de expansión

Sistema integrado de inyección de gas

Nanomanipulador integrado

Bloqueo de carga para intercambio de muestras (compatible con 8 pulgadas)
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