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FIB-SEM | DB550

FIB-SEM | DB550

Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo (FE-SEM) con columnas de haz de iones enfocados (FIB)

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FIB-SEM / DB550

El microscopio electrónico de barrido con haz de iones enfocado (FIB-SEM) CIQTEK DB550 tiene una columna de haz de iones enfocado para nanoanálisis y preparación de muestras. Utiliza tecnología de óptica electrónica de “súper túnel”, diseño de objetivo no magnético y de baja aberración, y tiene la característica de “bajo voltaje, alta resolución” para garantizar sus capacidades analíticas a nanoescala.

Las columnas de iones facilitan una fuente de iones de metal líquido Ga+ con haces de iones altamente estables y de alta calidad para garantizar las capacidades de nanofabricación. El DB550 es una estación de trabajo de nanoanálisis y fabricación todo en uno con un nanomanipulador integrado, un sistema de inyección de gas y un software GUI fácil de usar.

Reflejos de FIB-SEM / DB550

1. "Super Tunnel" tecnología de columna de óptica electrónica/desaceleración del haz en la columna

Disminuye el efecto de carga espacial, asegurando un rendimiento de resolución de bajo voltaje.

 

2. Sin cruces en la trayectoria del haz de electrones

Reduzca eficazmente las aberraciones de la lente y mejore la resolución.

 

3. Lente objetivo compuesta electromagnética y electrostática

Reduce las aberraciones, mejora significativamente la resolución a bajos voltajes y permite la observación de muestras magnéticas.

 

4. Lente objetivo de temperatura constante refrigerada por agua

Asegure la estabilidad, confiabilidad y repetibilidad del rendimiento de la lente objetivo.

 

5. Sistema de conmutación de apertura variable de múltiples orificios mediante desviación del haz electromagnético

El cambio automático entre aperturas sin movimiento mecánico permite un cambio rápido entre varios modos de imagen.

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Características de FIB-SEM / DB550

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Tecnología de óptica electrónica "SuperTunnel"

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Haz de iones de galio

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Excelente capacidad de expansión

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Sistema integrado de inyección de gas

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Nanomanipulador integrado

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Bloqueo de carga para intercambio de muestras (compatible con 8 pulgadas)

FICHA TÉCNICA

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